Metallanalysator

Kontrollmetod introducerar nästa generation portabla analysinstrument från Oxford Instruments. Nya X-MET7000 är en robust och portabel metallanalysator med XRF(röntgenfluorescens).

Av Monica Almgren

den 27 augusti 2012 00:00

Vanliga användningsområden är framför allt metallsortering och PMI (Positive Material Identification). X-MET7000 har marknadens tydligaste och största inbyggda pekskärm, menysystem på svenska, kompakt format och låg vikt, uppstartningstid på enbart 15 sekunder, batteritid upp till hela 10 timmar och rapportfil (PDF) direkt till USB-minne eller dator. Kemisk analys med föreslagen klass fås på några sekunder. X-MET7000-serien finns i versioner med både Silicon Pin Detector och Silicon Drift Detector (analys av även lätta element som Al, Mg, Si).

{{ comments.count === 1 ? '1 kommentar' : comments.count > 1 ? '{0} kommentarer'.replace('{0}', comments.count) : 'Skriv en kommentar' }}

Inläggen nedan modereras inte i förväg och omfattas därmed inte av webbplatsens utgivningsbevis.

Genom att skicka denna kommentar accepterar du villkoren. Se villkoren

Generella riktlinjer för kommentarer:

• Skriv i en god ton och håll dig till ämnet
• Sätt endast in länkar om de är relevanta för debatten
• Undvik att ange personuppgifter, såsom person- eller kontonummer

Redaktionen förbehåller sig rätten att radera kommentarer utan att meddela detta om de inte överensstämmer med ovanstående, är av kommersiell karaktär eller i strid med lagen.

Redaktionen tar inte ansvar för innehållet i kommentarerna. Den som skrivit kommentaren kan därför hållas ansvarig för eventuella lagbrott - inklusive lagen om förtal.

Kommentarer som bryter mot riktlinjerna kan anmälas genom att klicka på ”Rapportera olämpligt innehåll”.

Kommentaren har upprättats.

Your comment will not be visible until you activate it. In a few moments you will receive an email where you must click on a link to activate your comment.